國內國際學校中常用的MAP測試是什麽？

MAP測試是很多國際學校常用的學生學業(ye) 測評考試MAP(Measures of Academic Progress)，中文是中小學學業(ye) 成長測試，是一種基於(yu) 網絡的電腦自適應(computer-adaptive)測試。它基於(yu) 每一名受測者的學業(ye) 水平為(wei) 其提供個(ge) 性化的測試體(ti) 驗，準確地評價(jia) 出每一名受測者當前的學業(ye) 水平、確定其學習(xi) 能力的最近發展區域；由於(yu) MAP®測試從(cong) 幼兒(er) 園到高中畢業(ye) 采用的是一套穩定不變的評分體(ti) 製，該測試可以用分數(RIT值量表)直觀地反映出受測者的學習(xi) 成長軌跡，準確地評價(jia) 出學生在不同年級、不同學期的學習(xi) 進展情況。相較於(yu) 傳(chuan) 統測試，MAP測試能夠讓測試數據最大化地發揮其效果，讓教師、家長和學生真正能基於(yu) 測試數據幫助學生進步。

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MAP測試的研發機構
MAP測試由美國西北測評協會(hui) (NorthwestEvaluationAssociation，簡稱NWEA )研發，NWEA是美國國內(nei) 最大的教育測評機構，也是全球性的非營利教育服務機構。從(cong) 1976年開始已擁有近50年的測評經驗，與(yu) 美國國家研究院，著名的常青藤大學，各州的教育機構保持合作關(guan) 係，致力於(yu) 從(cong) Pre-K開始到大學入學前的學生的學科能力測評，能幫助教師提供很具體(ti) 的學生能力情況，便於(yu) 因材施教，改進教學；也能幫助家長學生規劃學習(xi) 。

MAP測試的優(you) 勢
覆蓋範圍廣: 從(cong) Pre-K到高中年級的科目
有強大的題庫，從(cong) K到12年級，從(cong) 閱讀、語法、數學到科學，題目內(nei) 容豐(feng) 富且不斷更新，確保考生在下次的測試中不會(hui) 遇到重複的考試內(nei) 容

靈活的考試形式: 自適應考試機製
每個(ge) 考生的題目都不一樣，係統會(hui) 根據你的答題情況調整相應的考試難度。如果考生在某個(ge) 知識點上答錯，那麽(me) 係統會(hui) 降低考試難度，推出更簡單的題目；如果考生答對了，那麽(me) 係統會(hui) 提高考試難度，推出更難的題目，直到考生在這個(ge) 知識點上維持一個(ge) 相對穩定的正確率。

通過這樣的個(ge) 性化調整，MAP測試能精準評估每位考生的真實學業(ye) 水平，得到一份專(zhuan) 屬於(yu) 自己的成績報告，讓考生及時發現自己知識點上的缺環，以便查漏補缺；而老師和家長也可以通過學生成績報告調整相應的教學計劃。

針對性分析: 橫縱向比較學生的學業(ye) 水平
MAP成績是由RIT值表現的，RIT值能體(ti) 現學生在知識點上的掌握程度，作為(wei) 學業(ye) 水平的數字量化。科普 | 國內(nei) 國際學校中常用的MAP測試是什麽(me) ？
MAP測試擁有非常強大的數據庫和樣本量，收錄了約1000多萬(wan) 個(ge) 美國本土的測試數據，以及40多萬(wan) 個(ge) 美國以外國家的數據，可信度很高。
學生在MAP測試結束後可以和自己不同時間段的成績作縱向比較，也可以和同年齡段的其他地區學生作橫向比較，有利於(yu) 自身學業(ye) 水平的進步。